性能不錯,價格也不錯,利屏PC3200
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與標準狀態(tài)測試時類似,為了充分排除處理器、北橋等的限制因素,我們規(guī)定了超頻測試時的系統(tǒng)BIOS設(shè)置,現(xiàn)將主要部分列出如下:
BIOS父項目 | 選項 | 設(shè)置值 | ||
ADVANCED-JUMP FREE | CPU倍頻 | 11 | ||
內(nèi)存/FSB頻率 | 1:1 | |||
PERFORMANCE | 利屏 | OCZ | 金士頓 | |
AUTO | ||||
內(nèi)存核心電壓 (V) | 2.75 | |||
ADVANCED-CHIPSET | 時序參數(shù)設(shè)置 | 利屏 | OCZ | 金士頓 |
CL | 詳見測試結(jié)果 | |||
TRP | ||||
TRCD | ||||
PRECHARGE (TRAS) | ||||
BURST LENGTH | 4 | |||
ACCERLERATION MODE | AUTO | |||
其余內(nèi)存相關(guān) | AUTO |
與上次我們所做的《OCZ PC3200白金雙通道套裝內(nèi)存評測紀實》類似,我們將超頻測試分為兩大塊,首先取三種品牌的雙條內(nèi)存組成雙通道,測試其超頻極限;之后再抽取三種品牌的單根內(nèi)存條,測試其超頻極限。
至于檢驗內(nèi)存條超頻極限的方法,我們?nèi)匀皇褂门c我們上一次的OCZ測試基本一致的超頻穩(wěn)定性測試流程,其測試詳細流程如下:
檢查能否順利引導進入系統(tǒng)中 → 運行SiSoft Sandra2004中的CPU數(shù)學性能測試 → SiS 2004 CPU多媒體性能測試 → SiS 2004內(nèi)存帶寬測試 → SiS2004緩存-內(nèi)存帶寬測試 → ScienceMark 2.0中的內(nèi)存測試 → Superπ英文版1M運算3遍 → Superπ英文版2M運算3遍 → UT2003 Flyby+Botmatch 1024×768重復運行3遍 → Q3 demo001打開timedemo模式重復運行3遍 → PCMark 2004選中整體、處理器、內(nèi)存以及顯卡性能進行測試,重復運行3遍。
以下為本單元詳細的超頻測試結(jié)果列表:

在超頻性能測試中,利屏科技的LPT256-PC3200W套裝終于顯示出了應有的實力,由測試結(jié)果可見,該內(nèi)存套裝在雙通道部分的測試中將普通品牌內(nèi)存遠遠拋在了后面,與OCZ的內(nèi)存可超性已經(jīng)十分的接近。而在單條可超性的測試中,則與OCZ持平,同時我們也注意到參測的普通品牌內(nèi)存條在單條超頻測試中顯現(xiàn)出的可超性十分驚人。
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